专利信息计量研究综述
文庭孝
A Review on Patentometrics Research
图书情报知识 . 2014, (5): 72 -80 .  DOI: 10.13366/j.dik.2014.05.072

地址：武汉市武昌珞珈山 武汉大学信息管理学院 邮编：430072 电话：027-68754437 E-mail：tqy12@whu.edu.cn
版权所有 © 《图书情报知识》编辑部     鄂ICP备05003330号-1
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发 技术支持：support@magtech.com.cn